偏光顯微鏡是一種特殊的顯微鏡，利用兩個(gè)偏振鏡從標(biāo)本中獲得一定的光學(xué)數(shù)據(jù)。偏光顯微鏡被廣泛應(yīng)用于光學(xué)礦物學(xué)支持地質(zhì)，石棉測(cè)試和法醫(yī)學(xué)等應(yīng)用領(lǐng)域。往往是那些在不同領(lǐng)域的工作,顯微鏡，有時(shí)會(huì)是指由不同的名稱，如顯微鏡地質(zhì),工具顯微鏡，巖相顯微鏡，顯微鏡POL，和PLM(偏光顯微鏡偏光顯微鏡)。

偏光顯微鏡和一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的復(fù)合顯微鏡之間的主要區(qū)別是增加一個(gè)固定偏振片之間的光源和試樣和另外一個(gè)客觀和目鏡之間可調(diào)偏光鏡。第二偏光片被稱為“分析儀”，通常可以插入一個(gè)旋轉(zhuǎn)的部分，在顯微鏡的脖子。其他常見的配件包括一個(gè)旋轉(zhuǎn)舞臺(tái)和插入遲緩石膏或石英制成的板材。

有了這些額外的元素，偏光顯微鏡，這種顯微鏡可以從一個(gè)標(biāo)本，沒有其他的顯微鏡可以獲取的光學(xué)數(shù)據(jù)。關(guān)鍵的光學(xué)信息，包括折射率，雙折射，伸長(zhǎng)的跡象，多色，消光角，所有這些都提供了線索正在調(diào)查材料的晶體。